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MEMS气体传感器老化测试系统

IDM-C01气体传感器老化测试台是由苏州慧闻纳米科技有限公司自主研发,主要用于实验或批量生产中对气敏元件特性以及气敏元件测量模组进行测试和老化 ,一次最多可以同时测试32支气敏元件或者测量模组 。通过对测试数据的处理,能以图形曲线和数两种方式显示气敏元件特性。批量生产中对气敏元件特性以及气敏元件测量模组进行测试和老化 ,一次最多可以同时测试32支气敏元件或者测量模组 。通过对测试数据的处理,能以图形曲线和数据两种方式显示气敏元件的特性。


主要特点

在测试软件平台上, 可显示气敏元件负载输出电压;
在测试软件平台上, 能计算元件电阻值、压灵敏度和;
在测试软件平台上, 能计算元件的响应时间、恢复;
在测试软件平台上, 能根据测量结果对元件进行分档归类,在虚拟列阵上以 能根据测量结果对元件进行分档归类,在虚拟列阵上以 不同颜色直观表示,并计算出在每一档范围内的元 件数与所有参加测试不同颜色直观表示,并计算出在每一档范围内的元 件数与所有参加测试件数的比例,并以百分表示。
在测试软件平台上, 可将气敏元件负载输出电压随时间变化的特性曲线在测 试过程中动态显示。 

技术参数




产品组成:

本系统由硬件 系统 ,软件 ,软件 平台 两部分组成。 关于硬件系统方面 ,本 测试老化 系统配置 了一块 多通道的 高速 数据 采集 模块, 在测试 工作中能同时 开启 96路数 据采集通道。 随测试老化台赠送一块 IC测试板和一块 模组的,以及带环境温度测量功能的负载板卡。

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